當今的模擬和功率半導體技術（包括 GaN 和 SiC）要求進行參數測試，以便限度提高測量性能、支持廣泛的產品組合以及限度降低測試成本。40 多年來，吉時利已經在關鍵應用中解決了這些問題以及其他重要挑戰，這些應用包括工藝整合、工藝控制監控、生產芯片分類（例如，晶片驗收或已知的良好芯片測試），以及可靠性。
帶有 KTE 7 軟件的吉時利 S530 系列參數測試系統提供高速、靈活的配置，能夠隨著新應用的出現和需求變化而不斷發展。S530 可進行高達 200 V 的測試，而 S530-HV 可以在任何引腳上進行高達 1100 V 的測試，與競爭解決方案相比，吞吐量提高了 50%。KTE 7 的新增功能是促成直接對接探測器和原有探頭卡重新使用的可選系統測試頭，支持汽車標準 IATF-16949 要求的系統級 ISO-17025 引腳校準，以及從原有的 S600 和 S400 系統進行遷移的、最順暢的路徑，具有完整的數據關聯性并提高了速度。

S530 功能
靈活的探測器接口選項，包括測試頭，支持原有吉時利和 Keysight 裝置
行業標準的 KTE 軟件環境
觸摸一次探頭即可完成高壓和低壓參數的測試
通過全新系統參考單元 (SRU) 進行全自動系統級校準符合質量標準
KTE 7 中的運行狀況檢查軟件工具限度地延長系統正常運行時間和提高數據完整性
內置的瞬態過電壓和/或過電流事件保護可地減少代價高昂的系統停機或對晶片造成損壞
符合 ISO-17025 校準要求并支持 IATF-16949 合規性
提供 SECS/GEM 與 300 毫米晶圓廠的集成