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Tektronix泰克 高速硅一致性測試任意波形發(fā)生器 AWG70001B
簡要描述:

AWG70001B系列任意波形發(fā)生器(AWG)在采樣率、信號保真度和波形內(nèi)存方面代表著水平,特別適合復(fù)雜器件、系統(tǒng)和實驗的設(shè)計、測試和操作

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2025-03-03
  • 訪  問  量:125

詳細(xì)介紹


AWG70001B 系列任意波形發(fā)生器 (AWG) 在采樣率、信號保真度和波形內(nèi)存方面代表著水平,特別適合復(fù)雜器件、系統(tǒng)和實驗的設(shè)計、測試和操作。由于高達 50 GS/s 采樣率和 10 位垂直分辨率,它提供了優(yōu)秀的信號激勵解決方案,可以簡便地生成理想信號、失真信號和“真實生活"信號。

主要性能指標(biāo)
采樣率高達 50 GS/s
-80 dBc 無雜散動態(tài)范圍
10 位垂直分辨率
高達 32 G 樣點的波形內(nèi)存



主要功能
在一個產(chǎn)品中提供完整的寬帶 RF 信號發(fā)生解決方案
直接生成載波高達 20 GHz 的寬帶信號,而不需要外部 RF 轉(zhuǎn)換
仿真真實環(huán)境模擬信號在高速數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)流上的影響
建立速率高達 12.5 GB/s 的信號損傷模型
生成高精度 RF 信號
無雜散動態(tài)范圍性能優(yōu)于 -80 dBc
為光傳輸創(chuàng)建高速基帶信號,垂直分辨率可以處理高階復(fù)雜調(diào)制
10 位垂直分辨率,50 GS/s 采樣率
創(chuàng)建長波形場景,而不需構(gòu)建復(fù)雜的序列
高達 32 G 樣點波形內(nèi)存,在 50 GS/s 下播放 640 ms 的數(shù)據(jù)
多機同步(手動或使用 AWG 同步集線器),實現(xiàn)多通道高速 AWG 系統(tǒng)
全面運行,無需外部 PC
內(nèi)置顯示器和按鈕可以直接從 AWG 前面板迅速選擇、編輯和播放波形
通過播放捕獲的信號,仿真真實世界環(huán)境
可以在AWG 上播放、編輯或重新采樣示波器或?qū)崟r頻譜分析儀捕獲的波形
從仿真平滑遷移到真實世界測試環(huán)境
從第三方工具導(dǎo)入波形矢量,如 MATLAB
排序器及 Streaming ID
通過網(wǎng)絡(luò)接口連接直接控制排序器



應(yīng)用
通信和國防電子寬帶 RF/MW
輸出高達 20 GHz 的寬帶 RF 信號
高速硅和通信設(shè)備驗證和一致性測試
使用各種信號損傷簡便地對接收機進行壓力測試
相干光研究
使用高階復(fù)雜調(diào)制,生成高波特率基帶信號
電子、物理和化學(xué)研究
高速度低抖動信號源生成的模擬信號、快速脈沖、數(shù)據(jù)流和時鐘

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